| 基于反常霍尔效应的薄膜磁滞回线测量系统的原理与设计 |
| [发布日期：2011-06-21 点击次数：1718] |
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摘要：周卓作，杨晓非，李 震，董凯锋
（华中科技大学 电子科学与技术系, 湖北武汉 430074）
摘 要：随着制备工艺和要求的提高，磁性薄膜样品的厚度越来越薄，采用传统的测量方法难以准确测量其磁滞回线。本文探讨反常霍尔效应产生原理，提出了一种新的磁滞回线测量方法，以反常霍尔效应所产生的反常霍尔电压与薄膜样品的磁化强度成正比为测量原理，采用四探针测量方式，在薄膜样品表面水平通以恒定电流后，测量其垂直方向的反常霍尔电压，从而最终绘制样品的磁滞回线。大量实验表明，该测量方法稳定可靠，精度较高，符合测量要求。
关键… |
